Вид для печати
Проверил тестер с имеющимися микросхемами серии 1533 - все, что были в базе, успешно определились. Т.е., пошивка полностью портирована под новое железо.
Третья платка с полевыми транзисторами для подачи питания разведена и отдана в производство.
Довёл до работоспособного состояния софт для ПК - теперь можно запускать и отлаживать тесты без перепрошивки, отладчик выглядит как-то так:
http://trolsoft.ru/content/sch/ic-tester-2/debuger.png
Пытаюсь собрать из сорцов. Падает:
смотрю в сборщик, а там и правда (avr.py:71)Цитата:
Traceback (most recent call last):
File "/home/eltaron/Documents/avr-make/builder", line 26, in <module>
compiler.run(sys.argv[1:])
File "/home/eltaron/Documents/avr-make/compilers/avr.py", line 78, in run
print '--[' + config + ']--'
TypeError: cannot concatenate 'str' and 'NoneType' objects
Т.е. если явно не указывать конфигурацию, то неминуемо упадет. А она не указана.Код:if len(self.configurations) == 0:
self.configurations.add(None)
...
for config in self.configurations:
self.project.current_configuration = config
это avr-make последней версии?
у меня это кусок выглядит так:
- - - Updated - - -PHP код:for config in self.configurations:
self.project.current_configuration = config
if config is not None:
print '--[' + config + ']--'
self.build()
Ага, а в гит я эти изменения сложить забыл. Закоммитил, можно обновляться
Пришла сегодня в голову одна мысль, и всё никак не уходит.. А не сделать ли lite-версию тестера на atmega128?
В отличии от текущего трехплатного монстра, это была бы небольшая платка с панелью ZIF-24 или ZIF-28, узкой или универсальной. Вместо LCD дисплея один семисегментный индикатор плюс одна единственная кнопка для запуска теста. Питание - либо от одного аккумулятора АА, либо от литиевого аккума (повышающий преобразователь). Для того, чтобы быстро проверить 555ю и 1533ю серию этого должно быть более, чем достаточно, а схема упростится в разы - правило 80 на 20 в действии.
Интересно, насколько такая штука была бы нужна?
Есть такой мини на мини-меге.
Не распыляйте средства и время.
PS. Если средств много, то лучше сделать еще и тестер радиоламп, а если времени много - то прошивку портировать на асссемблер.
Недостаток тестера на atmega8515 - мало памяти чтобы уместить все тесты. Недостаток текущего тестера на atmega128 - существенно более сложная конструкция.
А мини-тестер можно сделать по сильно упрощённой схеме - МК + ZIF + LED + несколько резисторов. При этом по стоимости он будет легко конкурировать с китайскими )
И времени много не отнимет - прошивка во многом будет использована текущая, база тестов общая.
Но это так, на будущее. Сначала надо то, что есть до финала довести.
P.S. на счёт портирования прошивки на ассемблер - ничего хорошего это не даст, несколько выигранных килобайт и миллисекунд не стоят кода, который в разы сложнее поддерживать и переносить на другое железо.
Цитата:
Сообщение от Trol73
Евгений высказывал мнение, если я ничего не путаю, что в тестере на 8515 можно увеличить количество микросхем раза в 2 и без ассемблера. Но, прошивку надо переписывать с нуля и изменять формат хранения данных о м\с. Однако, это никому не нужно, все (кто может) выкидывают ненужное им и на это место добавляю нужное. Так же и с дисплеем 1602, вроде бы он и пины освобождает и памяти будет отжирать не много, но опять же надо переписывать прошивку. А так на 8515, ИМХО, можно сделать автономный тестер который удовлетворит потребности 99% пользователей (жду интереса китайцев к этой концепции ;-) хотя, DIP вымирает, можно и не дождаться).Цитата:
Сообщение от Trol73
Понятный формат хранения описаний тестов нужен.
А вот дорогие и устаревшие контроллеры не нужны. Ровно как и ЯВУ для них. Но для прототипа Си очень даже ничего. Для готового изделия полезным уделить время на портирование на ассемблер.
По части портабельности на другие железки Си не помощник, а лишь помеха, когда доходит до низкоуровнего взаимодействия с портами и регистрами...
Тесты - это достаточно неоднозначная вещь. Вообще, чтобы полностью проверить микросхему, надо подать все возможные комбинации сигналов на все входы и проверить состояние выводов. Это для совсем простой логики. Для триггеров, счётчиков и регистров еще надо ещё учитывать всю предысторию. Если расписать формулы всех возможных комбинаций и вычислить факториалы в них, то получим огромные цифры комбинаций и время полного тестирования одной микросхемы, которое будет измеряться в месяцах / годах.Цитата:
Сообщение от CodeMaster
Поэтому, мы используем сильно упрощённые тесты, которые проверяют только основные комбинации.
Но упрощение может быть разное. Например, для одного элемента микросхемы ЛА3 существуют 4 возможных комбинации входных уровней. Но можно подавать их сразу на все 4 элемента (тогда будет всего 4 теста), а можно на разные элементы подавать разные комбинации, чтобы протестировать их независимую работу, и тогда тестов будет гораздо больше.
Это я к тому, что памяти МК для тестера слишком много не бывает :) Даже если научиться представлять тесты в очень компактном виде, то 8кб будет мало для нормального тестирования всех интересных микросхем.
При этом 128я мега компактнее и дешевле 8515й.
p.s. не думаю, что китайцам интересны наши концепции - у них достаточно своих тестеров (кстати в них используются SMD компоненты)
- - - Updated - - -
А в чём, собственно, польза? :)Цитата:
Сообщение от perestoronin
Я портировал тестер с 32й меги на 128ю где-то за 1-2 часа. При том, что у них совершенно разные схемы и разные порты используютсяЦитата:
Сообщение от perestoronin
Определение микросхем оставить во внутреннем ПЗУ, развернутый тест подгружать из внешнего SPI-флеша - такое возможно?Цитата:
Сообщение от Trol73
Да я не против, но автономного тестера на ней никто не делает, не говоря о том, что бы там ещё и тестер ДОЗУ был.Цитата:
Сообщение от Trol73