Код:
ORG #7530
CALL H0D6B
LD A,#02
CALL H1601
CALL H762D
DM "Testing in contended RAM...",#FF
LD A,#01
LD IX,H75CC
CALL H759B
CALL H762D
DM "Testing in uncontended RAM...",#FF
LD HL,H75CC
LD DE,H9800
LD BC,H0042
LDIR
LD A,#02
LD IX,H9800
CALL H759B
RET
H759B OUT (#FE),A
CALL H75CA
LD A,C
OR A
JR Z,H75B9
CALL H762D
DM "DRAM not faded",#0D,#0D,#FF
RET
H75B9 CALL H762D
DM "DRAM faded",#0D,#0D,#FF
RET
H75CA JP (IX)
H75CC DI
LD HL,HA000
H75D0 LD (HL),#AA
INC L
JR NZ,H75D0
INC H
JR NZ,H75D0
XOR A
H75D9 LD B,#03
H75DB LD HL,#0000
H75DE XOR A
LD R,A
LD R,A
LD R,A
LD R,A
LD R,A
LD R,A
LD R,A
LD R,A
LD R,A
LD R,A
DEC HL
OR H
JR NZ,H75DE
DJNZ H75DB
LD HL,HA000
LD BC,#0000
H75FF LD A,(HL)
CP #AA
JR NZ,H760C
INC HL
LD A,H
OR L
JR NZ,H75FF
LD BC,H0001
H760C EI
RET
LD A,H
CALL H7617
LD A,L
CALL H7617
RET
H7617 PUSH AF
RRA
RRA
RRA
H761B RRA
CALL H7624
POP AF
CALL H7624
RET
H7624 AND #0F
CP #0A
H7628 SBC A,#69
DAA
RST #10
RET
H762D POP DE
H762E LD A,(DE)
INC DE
CP #FF
JR Z,H7637
RST #10
JR H762E
H7637 PUSH DE
RET
H0D6B EQU #0D6B
H1601 EQU #1601
H9800 EQU #9800
H0042 EQU #0042
HA000 EQU #A000
H0001 EQU #0001
Собственно процедура тестирования с #75CC, она сначала отрабатывает там, потом переносится в быструю память с #9800 и отрабатывает там.