Проще говоря - чем "абстрактные" аналоговые характеристки наблюдаемой топологии отличаются от конкретных физических характеристик испытуемого изделия.
Тем и отличаюся, что фотография - это уже весьма абстрактное представление и увидеть на фотографии можно только то, что на ней видно. Состав примесей в полупроводниках ( например ) на фотографии не видно.





Ответить с цитированием
