? MM @ - 29.12.2012 00:01
Самый вредный и длинный тест ОЗУ:
1.Копируем в А-адрес массив (например, из ПЗУ) длиной Б.
2.Размножаем в ОЗУ вышеупомянутый массив.
3.Сравниваем с Оригиналом.
4.Сдвигаем на 1 бит по всей длине ОЗУ.
5.Сравниваем с оригиналом с бит-поправкой.
6.Повторить циклы сдвиг-контроль много раз.(например, 10000 раз)
7.Не забывать между циклами делать паузу не менее 0.5 с без обращения к ОЗУ вообще (например, какой-либо цикл в ПЗУ).
8.Считается, что такой цикл, пройденный 2 самых полных круга (полных - по количеству бит в массиве - например, 100000 бит) -
гарантирует от ошибок "утечка в смежный конденсатор в матрице ДОЗУ". Применяется для выходного контроля милитарисских ЭВМ.
П.С.Для сельской месности выбирать массив длиной больше 8 кбайт не рекомендуется. (смайл).
Ответить с цитированием
Размещение рекламы на форуме способствует его дальнейшему развитию 
