Сергей, я тебе давал журнальчик "Электронная промышленность". Там была большая статья о тестировании памяти на производстве. Там есть куча разных тестов (и вроде как с описанием какой тест на что нацелен).
А вообще, конечно, бегущие 0 и 1 вроде мало применимы к памяти бит-на-корпус (точнее очень даже применимы, только 0/1 должны бегать ни в рамках байта/слова, а в рамках строки в одной микросхеме; также применима "шахматка"/"диагональ" для прослеживания влияния соседних строк/столбцов).
Хотя есть мнение, что паттерна на РУшки вполне хватает, особенно если есть вариант "бесконечный", который обеспечивает тест с прогревом.
Ответить с цитированием