Тесты - это достаточно неоднозначная вещь. Вообще, чтобы полностью проверить микросхему, надо подать все возможные комбинации сигналов на все входы и проверить состояние выводов. Это для совсем простой логики. Для триггеров, счётчиков и регистров еще надо ещё учитывать всю предысторию. Если расписать формулы всех возможных комбинаций и вычислить факториалы в них, то получим огромные цифры комбинаций и время полного тестирования одной микросхемы, которое будет измеряться в месяцах / годах.
Поэтому, мы используем сильно упрощённые тесты, которые проверяют только основные комбинации.
Но упрощение может быть разное. Например, для одного элемента микросхемы ЛА3 существуют 4 возможных комбинации входных уровней. Но можно подавать их сразу на все 4 элемента (тогда будет всего 4 теста), а можно на разные элементы подавать разные комбинации, чтобы протестировать их независимую работу, и тогда тестов будет гораздо больше.
Это я к тому, что памяти МК для тестера слишком много не бываетДаже если научиться представлять тесты в очень компактном виде, то 8кб будет мало для нормального тестирования всех интересных микросхем.
При этом 128я мега компактнее и дешевле 8515й.
p.s. не думаю, что китайцам интересны наши концепции - у них достаточно своих тестеров (кстати в них используются SMD компоненты)
- - - Updated - - -
А в чём, собственно, польза?
Я портировал тестер с 32й меги на 128ю где-то за 1-2 часа. При том, что у них совершенно разные схемы и разные порты используются





Даже если научиться представлять тесты в очень компактном виде, то 8кб будет мало для нормального тестирования всех интересных микросхем.
Ответить с цитированием