А зачем отказываться от возможности тестировать всё подряд?!Сообщение от Eltaron
Нельзя будет тестировать микросхемы больше, чем, например, DIP-28, и это первое ограничение. А часто ли надо тестировать мелкую логику а таких больших корпусах? Второе ограничение - не получится тестировать сильно прожорливых монстров. А оно, опять же, часто надо? Разве что тому самому седому мастеру. Весь остальной функционал сохраняется. Включая возможность подключения к ПК. Тестировать можно всё тор же самое. Единственно, что 7 сегментный индикатор сможет либо только отображать состояние тестируемой МС - годна / не годна / полугодна (последнее в случае для ОЗУ). И этого обычно достаточно. Либо выводить название МС бегущей строкой. Это не очень удобно, но вполне приемлемо. Опять же, как часто тестер используют для определения номинала неизвестной микросхемы?
Ну и батарейки АА нынче не в моде, в моде аккумуляторы с подзарядкой от usb.
Разница в стоимости - это одна небольшая печатая плата вместо трех, минус дисплей, 24 полевика и ещё куча разной мелочи. Т.е., дешевле раза в три.
Ответить с цитированием