что я делал (на что времени хватило, занимаюсь, к сожалению, редко)
взят тест ALTV475F.BIN, конвертнул его в вав, заливаю с старого телефона по магнитофонному входу.
без ЦФ проходят тесты до теста переключения страниц, там на строках:
0100 ->0020
0020 - синхро 137130:000020 ошибка
0020 - синхро 137716:000020 ошибка
0000 ->0020
0020 - синхро 137130:000020 ошибка
0020 - синхро 137130:000020 ошибка
остальное без ошибок...
с "воткнутой на горячую" ЦФ таких ошибок больше, и длинный тест памяти дает
Этап 1
0160 - 1111111111111111 122122:write-halt
0160 - 1111111111111111 143338:write-halt
после доооооооолгой работы.
по уровням, фронтам и питанию вроде все нормально, судя по осциллографу.
озу вызывает подозрение (может это перемаркированная 3.3в микросхема, они сильно дешевле)
я ее запитал от 4.6в, когда сразу не заработало, при этом выполняются все требования по уровням.
Ответить с цитированием