В этом тесте как мне кажется такой подход не катит. В результатах всегда одни и те же номера сбойных страниц, а вот если попытаться переводить в двоичный код записанные и прочитанные тестовые значения, то "сбойные" разряды всегда будут разные. То есть, тут скорее всего надо знать карту страниц и номера используемых микросхем, потому что номера страниц и разряды похоже тоже не совпадают.
Кстати, пара других тестов вообще не находят ошибок памяти.





Ответить с цитированием