Тестовое ПЗУ

[Improver]

А почему не сделать простой вывод в порт, как я предложил выше? Если уж делать внешнее тестовое ПЗУ, то там можно на шину данных повесить восемь триггеров, на выходе светодиоды, это добавит в схему всего-то три микросхемы (триггер + пару штук на логику для выделения порта, как в схеме квазидиска).

Ещё есть такой вариант алгоритма тестирования: можно сначала оттестить, например 8000h-8100h, и если там всё ок, то использовать её как стек, или для хранения результатов. Если в этой области ошибка всплыла, показать миганием и протестить следующие 256 байт, пока не будет найден исправный блок. Нет исправных блоков -- полный "систем еррор"...

[Advertiser]

[KTSerg]

А почему не сделать простой вывод в порт, как я предложил выше? Если уж делать внешнее тестовое ПЗУ, то там можно на шину данных повесить восемь триггеров, на выходе светодиоды, это добавит в схему всего-то три микросхемы (триггер + пару штук на логику для выделения порта, как в схеме квазидиска).

В версии теста для 32КБ есть вывод результата тестирования банка микросхем в порт ПУ.
В порт 07 выводится маска наличия ошибок микросхем.
В порт 06 (два младших бита) номер банка микросхем.
"0" на выходе ПУ должен зажигать светодиод. Погасший светодиод в маске означает брак данной микросхемы в данном банке.

Ещё есть такой вариант алгоритма тестирования: можно сначала оттестить, например 8000h-8100h, и если там всё ок, то использовать её как стек, или для хранения результатов. Если в этой области ошибка всплыла, показать миганием и протестить следующие 256 байт, пока не будет найден исправный блок. Нет исправных блоков -- полный "систем еррор"...

Про адаптивность теста я уже писал.
Надо думать над этой темой.