Тестовое ПЗУ

[ivagor]

Все зависит от потребностей и возможностей конкретного наладчика, но мне как не любителю рукоделия больше нравятся варианты с минимальными аппаратными вложениями. Фактически таким является вышеупоминавшийся вариант с выдачей результата через магнитофонный порт. Там сложно писать программу, но если есть логический анализатор, то для последовательной передачи через ПУ вполне можно ограничиться двумя пинами - данные и "клок", это проще сделать

[Advertiser]

[KTSerg]

Немного оптимизации в тесте ОЗУ. Заметил, что при первом запуске на реале палитра не прописывалась, а повторный ВВОД+БЛК её лечил. Это исправил. Оказалось снова пропустил при старте инит очередного порта. Интересно, что большинство эмуляторов этого не видели, и прощали такую небрежность.

Тестирует адреса ОЗУ 8000h-FFFFh, работает при установке на место штатного загрузчика Вектора.
В текущей версии остался вывод маски микросхем в порт ПУ: А - маска микросхем (старший бит порта соответствует нижней микросхеме на плате), В - номер банка (два младших бита, нумерация банков слева на право, от 0 до 3).

Удалил промежуточные версии.
В сообщении на первой странице темы, версия заменена на актуальную.

[Improver]

Сделал альтернативный тест для Вектора с запуском из ПЗУ. В отличие от теста KTSerg, тестирование производится не только памяти и без вывода какой-либо полезной информации на экран, работает тест так:

1. Тестирование процессора с генератором, клавиатуры и ВИ53. На этом этапе, сразу после запуска, просто мигает индикатор "РУС/ЛАТ" с выводом щелчка при переключении, если нажать на клавишу "СС", "УС" или "РУС/ЛАТ", то через ВИ53 выводятся частоты 3, 2 или 1 кГц соответственно. При этом ОЗУ Вектора не используется совсем, только ПЗУ.

2. Тестирование верхней памяти (8000h-FFFFh). Запуск тестирования выполняется после одновременного нажатия "УС" и "СС". Тестирование выполняется три раза, заполнением памяти значениями 55AAh, AA55h и 0000h, каждый проход сопровождается выводом звука через ВИ53, тоже 1, 2 и 3кГц. В случае обнаружения первой ошибки в памяти, в порт В на "ПУ" выводится сбойные биты, в 5-4 битах порта C на "ПУ" -- номер банка памяти ("11" -- банк 8000h-9FFFh; "10" -- банк A000h-BFFFh; "01" -- банк C000h-DFFFh; "00" -- банк E000h-FFFFh), после чего сразу идёт возврат к п.1. По сохранившейся тональности можно определить, на каком проходе была выявлена ошибка памяти.

3. Тестирование нижней памяти (0000h-7FFFh). Если предыдущий тест не обнаружил сбоев в верхней памяти, то туда копируется содержимое ПЗУ и ожидается нажатие БЛК+СБРОС для его отключения. Если в этот момент нажать "РУС/ЛАТ", то произойдёт возврат к п.1 и можно будет запустить тест снова. В случае наличия автозапуска, как на 02-м Векторе, вторая часть теста стартует автоматически. Тестирование нижней памяти выполняется аналогично, как и верхней, в три прохода. В случае обнаружения ошибок, они также выводятся в ПУ и после нажатия "РУС/ЛАТ" идёт повтор теста нижней памяти.

4. Дополнительные тесты. Если во время всех тестов ошибок не было обнаружено, то всё, что было записано ПЗУ после тестов, копируется в память с адреса 0100h и запускается на исполнение. Т.е. к файлу "BLINK.EPR" в конец можно (и нужно) дописать любую программу до 32кБ, и эта программа будет запущена сразу после теста памяти. Это могут быть тесты устройств, квазидиска или даже некая оболочка с выбором последующего теста из нескольких -- всё, что поместится в 32Кб минус 593 байта. Для примера, в архиве в файл "BLINK.r0m" дописан стандартный тест техпрогона.

Архив с прошивкой для ПЗУ и исходниками: blink.7z
Проверил работу в эмуляторах и на живом Векторе (не из ПЗУ). Да, мой тест несколько хуже в плане информативности по ошибкам, т.к. останавливается на первой же найденной ошибке, но какое-то заключение по работе Вектора с ним можно получить. Кроме того, он может работать с полностью неисправным ОЗУ, без вывода на ТВ, а также не использует прерывания и не программирует палитру. Пусть будет как альтернатива.

[KTSerg]

Сделал альтернативный тест для Вектора с запуском из ПЗУ.
...
3. Тестирование нижней памяти (0000h-7FFFh).
...

По идее, если в верхней части ошибок нет, и дело дошло до тестирования нижней части памяти, то результат можно и на экран вывести.

[Improver]

По идее, если в верхней части ошибок нет, и дело дошло до тестирования нижней части памяти, то результат можно и на экран вывести.

Можно, но для этого нужно в начале записать палитру, для чего потребуется разрешить прерывания, а чтобы этого не делать при неизвестном состоянии памяти, а также возможно нерабочем состоянии вывода на экран, я решил пойти по простому пути, тестировать тем же алгоритмом. Ну в крайнем случае, после этого ведь можно запустить любой другой тест и проверить всё более наглядно.

[KTSerg]

В продолжение разговора про тестирование ОЗУ при замыкании разрядов шины адреса ОЗУ...

Я говорил, что можно мультиметром составить таблицу сопротивлений между адресными входами микросхемы ОЗУ, по принципу "всех со всеми".
Возможна более сложная альтернатива поиска проблем с шиной адреса.
Например, заполнение ОЗУ Вектора некой инфой, и выгрузка содержимого всех 64КБ памяти в файл на внешний носитель через разъём ПУ, так как шина адреса потенциально неисправна, то адекватная выгрузка на КД невозможна. И дальнейший анализ содержимого, уже на РС.
Анализ замыкания разрядов сложен, но возможен. Там-же будет очевидным замыкание разрядов шины данных. Хотя замыкание разрядов шины данных и на обычных тестах выявится, как неисправность микросхем одного разряда во всех банках (скорее всего).

Кстати, я прикинул... При замыкании разрядов шины адреса, мой "модуль внешнего ПЗУ" для тестирования ОЗУ - бесполезен, так как не будет работать. Для формирования адреса на своей ПЗУ, он использует ту-же шину, что и ОЗУ Вектора. При замыкании разрядов, программа в ПЗУ просто не будет работать.
Остается возможность запустить тест только заменив ПЗУ штатного загрузчика, на ПЗУ с тестом ОЗУ.

Можно ещё попробовать сделать более простой тест именно для тестирования разрядов шины адреса, и выводить результат на какой-то простой дисплей подключенный к ПУ. Поскольку шина адреса потенциально искажена, то при выводе на экран Вектора так-же возможно искажение результата.
По поводу дисплея... минимальный результат, это адрес по которому обнаружен сбой, значит на дисплее достаточно использовать четыре 7-ми сегментных разряда, в формате FFFFh.
В голову приходят минимум три варианта, которые может потянуть разъём "ПУ":
1. четыре 7-ми сегментных индикатора.
2. какой-то готовый дисплей из таких индикаторов.
3. ЖК-дисплей типа LCD1602.

Какой вариант Пробовать?
Мне проще LCD1602.

[KTSerg]

Процесс идёт.
Дисплей на ПУ работает.
Схема подключения очень простая, 4 диода и 4 резистора.
Осталось в тест ОЗУ его интегрировать, результаты на нём отображать.

[KTSerg]

Накатал тест ОЗУ из ПЗУ установленной на место штатного загрузчика, для анализа замыкания разрядов шины адреса ОЗУ.
Анализировать приходится данные из ОЗУ по адресам 8000-FFFF, так как на Векторе возможна доработка для расширения ПЗУ загрузчика до 32К.
Сначала у меня крыша поехала от результатов, так как мультиплексирование и запутанность разрядов шины адреса ОЗУ, и тут дают значительную путаницу.
Но вроде почти со всем разобрался...
Замыкание любых двух разрядов шины адреса с А0 по А5, дают однозначный результат с указанием, что замкнуты именно те разряды которые нужно.
А вот замыкание разряда А6 с любым другим (от А0 до А5), даёт дополнительно замыкание ещё и с разрядом А4.
Думал ошибка в анализе, выгрузил содержимое памяти Вектора, для посмотреть самому... точно, и на разряде А4 данные замусорены... хотя этот разряд не замыкался.
С участием А6, только замыкание А4 и А6 даёт верный результат.
Понять причину пока не могу...
На текущий момент, при интерпретации результатов теста, можно сделать оговорку: если указано, что замкнуто 3 разряда, и среди них есть А6, А4 и Ах, то скорее всего А4 - фантомное замыкание, и закорочены А6 с Ах...
Правда я не наглел, и более двух разрядов шины адреса пока не коротил на своём компе...

- - - Добавлено - - -

Кстати, ещё размышления по поводу теста...
Если есть "битые" микросхемы ОЗУ, то не корректным будет и анализ на замыкание разрядов шины адреса.
Результат анализа 7 бит, так как шина адреса на микросхемах всего 7 разрядов.
Результат можно спокойно выводить на разъём "ПУ", достаточно одного порта 7 бит.
А если обнаружатся проблемы при предварительной проверке на исправность ОЗУ, то обозначить это индикатором РУС/ЛАТ.

[KTSerg]

Пробую вывести результат теста ОЗУ, который предшествует тесту на замыкание разрядов шины адреса.
Поскольку на рабочее поле выводить результат бесполезно, подумал вывести положение "битой" микросхемы на бордюр.
Во вложении скриншот (из эмулятора) симуляции наличия "битой" микросхемы: четвёртая снизу, второй банк (колонка).
Из за ограниченного количества свободных регистров, и отказа от использования ОЗУ для хранения данных, получается вывести инфу только на один банк микросхем.
Т.е. при наличии "битых" микросхем в разных банках (колонках), за один тест можно отобразить найденную проблему только в одном банке, после устранения проблемы, повторный тест покажет "битые" микросхемы другого банка.
Хотя наверное можно например опрашивать клаву, и нажимая клавиши "1", "2", "3", "4" - перезапускать тест с проверкой конкретного банка и соответственно поочерёдно увидеть состояние всех банков микросхем.
Надо это переварить.
Пока так как есть. по одному банку за раз.

[KTSerg]

Добавил в тест опрос клавы.
Получилось два варианта поведения, даже три.
1. Тестируется первый банк ОЗУ, тест прекращается и выводится результат, не зависимо от того, были обнаружены ошибки или нет.
Далее по нажатию клавиш "1", "2", "3", "4" - можно запустить отдельно тест каждого из банков микросхем.
При этом по клавише "0" начнётся тестирование разрядов шины адреса ОЗУ только после проверки всех банков микросхем и при отсутствии проблем.

2. Тестируются все банки микросхем последовательно, при отсутствии проблем, сразу переходит на тест разрядов шины адреса.
При обнаружении проблем в тесте одного из банков микросхем, тест прекращается, выводится результат тестирования проблемного банка.
Далее по нажатию клавиш "1", "2", "3", "4" - можно запустить тесты других банков. Если при тестировании выбранного банка нет проблем, сразу тестируется следующий банк, и так до последнего. Не зависимо от результата тестирования 4го банка, тест останавливается, так как в предыдущих тестах были обнаружены проблемы.

3. Аналог второго варианта, только тестирование банков зациклено.
Если к примеру, во 2ом банке микросхем была проблема, и был запущен тест 3го банка, то при положительных результатах тестирования 3го и 4го банка, тест снова начнет проверку 1го банка, затем 2го - на нём снова остановится.

Вот сижу, думаю, какой вариант понятнее, удобнее...

Если кому-то интересно, запустить тесты, покрутить, помочь решить, какой удобнее, то могу выложить эти варианты, в тестовых версиях, для запуска в эмуляторе, с симулированными ошибками ОЗУ, и без них.