Мое мнение - все эти тестеры на слабеньких микроконтроллерах - игрушки. Потому что не могут обеспечить паспортное время доступа к DRAM, у них просто ноги не умеют так быстро шевелится, они медленные. А на меньшем времени доступа DRAM может и работать, а если установить в реальную схему - посыпет ошибками.

Тестер DRAM должен быть на ПЛИС, по крайней мере его часть, отвечающая за наносекундные циклы доступа к памяти, чтобы проверить циклы записи и чтение с даташитными таймингами на полной скорости. Возможно, сейчас какие-то STM32F7xxx на частоте => 300МГц такое смогут, но не изучал подробно.

Еще тестер должен уметь плавно регулировать напряжение питания DRAM в пределах паспортных значений, например устанавливать минимум и максимум и проверять работоспособность DRAM на скажем паспортном минимуме 4.0В и на паспортном максимуме 6.0В (для примера, разброс может и меньше, зависит от типа DRAM).

Еще должен уметь плавно изменять нагрузочную способность на DRAM с учетом паразитной емкости. Это тоже очень важный параметр, так как DRAM может вполне корректно работать с CMOS ножками микроконтроллера, но просаживать все свои входы выходы если в ставить ее в схему из каши 155, 555 и 1533 логики (привет Ленинградам-48 и подобным).

Ну и как вишенка на торте, тестер должен уметь охлаждать тестируемую микросхему до +10 градусов и нагревать до +60, или как в даташите написано.

И конечно должен позволять регулировать все эти исследуемые параметры и отображать полный подробный отчет о результатах теста - на какой температуре DRAM начала сбоить, какие напряжения питания прошла, какую нагрузочную способность выдержала, какие тайминги и время доступа и тд.

Вот такой тестер будет более менее "навороченный", имхо .