тестПЗУ

[Mick]

ну насколько помню 2 теста ОЗУ есть такие - вся память заполняется в первом тесте байтом 55 а в другом АА это взаимо инверсное число потом после паузы в полсекунды вся память сверяется с константой. тэст на динамику проходился со вписыванием в ячейку памяти числа и потом с определенным интервалом оно сдвигалось командой кругового сдвига и проверялось из памяти. вспомню больше - напишу.

Вот для любителей протестировать память специально были придуманы алгоритмы. Я приведу часть книги "Справочник. Полупроводниковые БИС запоминающих устройств" 1986 - как раз про это сказано. Сильно не пинайте за скан - книга в мой сканер не хочет лезть