Тестер мелкой логики на Мега8515

[Protom]

Привет,

Нужен совет как организовать меню памяти тестов. Думаю делать так:
Клик "Down" - виводит "мем".
Клик "Test" - заходим в меню тестом памяти.
Тогда выбираем микросхему кнопками "Up" и "Down" и нажимаем "Test". Проверяем микросхему .
Когда выбираем микросхему памяти будет показывать:
1 - РУ5, 2- РУ7, 3 - РУ6
или
1 - РУ5Г, 2 - РУ5Б, 3 - РУ5Д, 4 - РУ7, 5 - РУ6?
или
51 - РУ5А
52 - РУ5Б
53 - РУ5В
54 - РУ5Г
55 - РУ5Д
74 - РУ7Г
75 - РУ7Д

Тес делать бесконечный?
Если нашёл плохой бит показывать адрес?
Сделать чтобы можно вернуться в тест микросхем памяти?
Сделать чтобы можно вернуться в тест логических микросхем?

[dk_spb]

Заранее спасибо за большое дело!

>Когда выбираем микросхему памяти будет показывать:
>1 - РУ5Г, 2 - РУ5Б, 3 - РУ5Д, 4 - РУ7, 5 - РУ6?
Нужно ли разделение по буквам (кроме Д)?
Может сделать просто выбор по времени выборки?
Или проверка будет по времени регенерации?
По слухам РУ7 бывали на разных кристаллах с разной организацей и требовали разного рефреша...
Для буквы Д нужно еще давать возможность выбора половины или четверти, хотя я бы с буквой Д совсем не заморачивался. Какой смысл искать жемчужину в Г, если заранее известно что там её нет?
И опять же IMHO, не стоит на РУ зацикливаться, лучше указывать емкость м/с типа 16,64,256.

>Тес делать бесконечный?
Можно и так с указанием числа прогонов. И обязательно стоп по какой-либо(по любой) кнопке чтобы питание снималось

>Если нашёл плохой бит показывать адрес?
Если сказать "нет" отходам типа Д то необязательно.

>Сделать чтобы можно вернуться в тест микросхем памяти?
Лично я был бы рад просто отдельной прошивке тестов памяти.
Собрал бы второе устройство. В одном флаконе, конечно, замачниво, но боюсь надо будет всегда помнить особенности меню и неочевидные комбинации кнопок. Да и память для кода нерезиновая. Тогда можно и свободу индикации расширить, добавив светодиод "test run", а то ведь придется как-то на индикаторе показывать идет тест или уже нет, и придется это с отображение числа прогонов совместить.

[fifan]

Обязательно оставьте проверку РУ6, не забудьте.

[dk_spb]

Protom, И еще, если позволите, хотел уточнить: как планируется память тестировать?
1) целостность битов
2) время выборки
3) время регенерации
4) всё вышеперечисленное.
Заранее согласен что для большинства случаев теста на целостность битов хватит, особенно если серия тестов правильная (в том числе на исключение влияния соседних ячеек). Но проверка на способность сохранения информации при заданном периоде регенерации тоже очень полезна. Время выборки, наверное, самый менее полезный тест из названных, тем более я не очень хорошо понимаю как его грамотно реализовать: по идее там же не только время выдачи информации надо проверять, но и время между CAS и RAS, а это уже не просто тест, а большое лабораторное исследование получается ;-)
А вот тест "замер допустимого времени регенерации" - это почти сказка. Чтобы не ручками выставил и проверил живучесть, а чтобы с приращением с каким-то шагом делалось до потери устойчивого хранения. Хотя, опять же сразу соглашусь, что вполне возможно что это уже из области академического интереса и сложность реализации убивает всякий смысл практического применения.

[Protom]

Protom, И еще, если позволите, хотел уточнить: как планируется память тестировать?
1) целостность битов
2) время выборки
3) время регенерации
4) всё вышеперечисленное.
Заранее согласен что для большинства случаев теста на целостность битов хватит, особенно если серия тестов правильная (в том числе на исключение влияния соседних ячеек). Но проверка на способность сохранения информации при заданном периоде регенерации тоже очень полезна. Время выборки, наверное, самый менее полезный тест из названных, тем более я не очень хорошо понимаю как его грамотно реализовать: по идее там же не только время выдачи информации надо проверять, но и время между CAS и RAS, а это уже не просто тест, а большое лабораторное исследование получается ;-)
А вот тест "замер допустимого времени регенерации" - это почти сказка. Чтобы не ручками выставил и проверил живучесть, а чтобы с приращением с каким-то шагом делалось до потери устойчивого хранения. Хотя, опять же сразу соглашусь, что вполне возможно что это уже из области академического интереса и сложность реализации убивает всякий смысл практического применения.

Как бы надо проверять всё сразу. Если при положенных параметров микросхема теряет биты или не записывается то значит она непригодна. Так и думаю как всё это http://www.inp.nsk.su/~kozak/adv/advh9.htm запихнуть в меню.

Сперва попробую сделать тест для таких микросхем:

51 - К565РУ5Б
52 - К565РУ5В
53 - К565РУ5Г
54 - К565РУ5Д

61 - КР565РУ6Б
62 - КР565РУ6В
63 - КР565РУ6Г
64 - КР565РУ6Д

Буду заполнят 0x00, 0xFF, 0x55, 0xAA. Проверять write-read, full write - full read. Между тестами што выводить чтобы была ясно што проверил.
Надеюсь тайминги подберу.

[fifan]

Между тестами што выводить чтобы была ясно што проверил.

Просто банально: tESt.

[dk_spb]

Не-не-не-не.
Так неправильно.
Надо вместо кучи ру5 сделать 4164 (или 64Kx1) и задание времени выборки и рефреша.
А *Д нафиг выкинуть, так как это чаще всего половинки или четвертинки, то есть еще придётся в меню задавать какую половину/четверть тестировать.

А то получается что если у меня УКНЦ с немецкими 4164 то что же и уже и не оттестировать?
И с ру6 также - есть 4116 (16Kx1)

>Между тестами што выводить чтобы была ясно што проверил.
Думаю что достаточно в конце теста (по кнопке стоп) выводить XXYY, где XX - код ошибки, а YY - hex значение байта, в котором "1" соответствует сбойным битам. Например, есть если у нас в начальных адресах сбойнул старший бит, а в последнем адресе - младший, то увидим XX81. В XX тоже можно совмещать коды ошибок, например 0x80 - битовый сбой при записи 0xFF, 0x40 при записи 0x00 и т.д.

>Так и думаю как всё это ...запихнуть в меню.
Думаю сначала кнопками Up/Down выбираем емкость 16/64/256, после нажатия 3ей кнопки - следующий шаг: выбор времени выборки 15/20/50/70/100/120/150/200/250, следующий шаг - выбор времени рефреша. Потом по 3ей кнопке старт непрерывного теста (горит светодиод "test run", цифры - число проходов). По 4ой кнопке до старта теста - выход в начало меню, во время теста - стоп теста с показанием XXYY как описано выше.

Про регенерацию: например, "хорошие" (по бувкам) ру5 надо регенерировать не реже раза в 2мс, а РУ7 - 4мс. А "плохие" - соответственно 4 и 8мс. Соответственно это тоже неплохо бы тестировать, если есть такая возможность.
Потому как метить РУ7 как хорошую, если она больше 2мс не держит - нельзя

[alvis]

А *Д нафиг выкинуть, так как это чаще всего половинки или четвертинки, то есть еще придётся в меню задавать какую половину/четверть тестировать.

Д вроде никогда не были ни половинками ни четвертинками? Ими были Д1 и Д2.

[dk_spb]

>Д вроде никогда не были ни половинками ни четвертинками? Ими были Д1 и Д2.
Угу, только мне в 95% случаев Д попадались с надпечаткой (части).
В принципе я к тому что не надо держать в мозгах тестера всей базы по м/с (у какой буквы какие параметры), лучше задавать их в меню.

[alvis]

Угу, только мне в 95% случаев Д попадались с надпечаткой (части).

как бы там ни было, но уже не просто Д

В принципе я к тому что не надо держать в мозгах тестера всей базы по м/с (у какой буквы какие параметры), лучше задавать их в меню.

А многие ли помнят, какое время выборки у наших микросхем какой букве соответствует? С импортными то все понятно. Правда тогда получается, что в меню нужно оба варианта делать.